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LJ-G系列可在X及Z方向上精确测量物体表面的轮廓。可透过28种测量模式测量表面轮廓上的高度、宽度及间隙。
特性
· 可在8个点上同时进行测量。
· E3-CMOS 影像感测器提供稳定的测量
· Quatro连接系统可实现同类中最高的取样速度，达到3.8ms。
· 3.8ms的高速取样速度，F.S.的0.1％的高精度
· 简单设置功能表 (同类最快)
最大显示单位 0.1 µm/ 0.001 mm/ 0.01 °
最显示范围 ±99999.9 mm, ±999999 mm2, ±99999.9°